1. Gate dielectric integrity :
پدیدآورنده: Dinesh C. Gupta and George A. Brown, editors.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.,Silicon oxide films-- Testing.,Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.
رده :
TK7871
.
85
.
G32
2000
2. High dielectric constant materials
پدیدآورنده: / H.R. Huff, D.C. Gilmer (eds.)
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration,Semiconductors.,Gate array circuits--Materials--Congresses,Dielectrics.
رده :
TK
,
7874
,.
H52414
,
2005
3. High dielectric constant materials :
پدیدآورنده: H.R. Huff, D.C. Gilmer (eds.)
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Dielectrics,Gate array circuits,Integrated circuits-- Materials
